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    BeNano 180 納米粒度分析儀

    產品介紹


    BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統。它基于動態光散射原理,樣品分散在樣品池中,通過激光照射到樣品上,光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動,再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線,結合數學方法就可以得到顆粒的擴散系數,進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果。

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    基本性能指標


    粒徑檢測

      原理

      動態光散射技術

      粒徑范圍

      0.3 nm – 10 μm 

      樣品

      40 μL – 1 mL 

      檢測角度

      173 

      分析算法

      Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

    分子量測試

      分子量范圍

      342 Da – 2 x 107 Da

    微流變測試

      頻率范圍

     0.2 – 1.3 x 107 rad/s

      測試能力

     均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

    粘度和折光率測試

      粘度范圍

     0.01 cp – 100 cp

      折光率范圍

     1.3-1.6

    趨勢測試

      時間和溫度

     

    系統參數

      溫控范圍

      -15°C - 110°C

      冷凝控制

      干燥空氣或者氮氣

      標準激光光源

      50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

      相關器

      最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍

      檢測器

      APD (高性能雪崩光電二極管)

      光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動

    軟件

      中文和英文

      符合21CFR Part 11



    檢測參數

    ●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

    ●分子量

    ●分布系數 PD.I

    ●擴散系數 D

    ●流體力學直徑 DH

    ●顆粒間相互作用力因子 kD

    ●溶液粘度



    檢測技術

    ●動態光散射

    ●靜態光散射



    相關技術    


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