BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
產品介紹
BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。
基本性能指標
粒徑檢測
| 原理 | 動態光散射技術 |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
樣品量 | 3 μL – 1 mL |
檢測角度 | 90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測試
| 原理 | 相位分析光散射技術 |
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | ＞±20 μ.cm/V.s |
電導率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 110 μm |
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
| 頻率范圍 | 0.2 – 1.3 x 107 rad/s |
測試能力 | 均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量 |
折光率和粘度測試
| 粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢測試
| 時間和溫度 |
|
系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 110°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
標準激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關器 | 最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態線性范圍 |
檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測參數
●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數 PD.I
●擴散系數 D
●流體力學直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術
●動態光散射
●電泳光散射
●相位分析光散射
●靜態光散射
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